公差分析需系统评估微小扰动对光学性能的影响，误差来源可分为四大类：（1）制造公差——不正确的曲率半径、组件过厚或过薄、镜片外型不正确、曲率中心偏离机构中心、不正确的Conic值或其他非球面参数。（2）材料误差——折射率准确性、折射率同质性、折射率分布、阿贝数（色散）偏差。（3）组装公差——组件偏离机构中心（X,Y）、组件在Z轴上的位置错误、组件与光轴倾斜、组件定位错误（整群组件）。（4）环境公差——材料的冷缩热胀（光学或机构）、温度对折射率的影响（压力和湿度同样影响）、系统遭冲击或振动引起的对位问题、机械应力。
作者QQ及微信：49922779 