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光学测量

光学元件应力双折射检验——补偿器法(3/4)

时间:2025-10-18 09:51:00   作者:Leslie   来源:正势利   阅读:46   评论:0
内容摘要:精确测量与达标判定的定量测试方法当需要精确的数值来判断是否满足设计指标(如≤2nm/cm)时,就必须使用定量方法了。同样也有几类:补偿器法(Senarmont补偿法、Babinet补偿法等)。这是一种经典的定量测量方法,精度高。它的基本原理是在十字偏振法的基础上,在样品和检偏器之间加入一个可精确测量的补偿器(如石英楔子...

精确测量与达标判定的定量测试方法

当需要精确的数值来判断是否满足设计指标(如 ≤ 2 nm/cm)时,就必须使用定量方法了。同样也有几类:

补偿器法(Senarmont 补偿法、Babinet 补偿法等)。

这是一种经典的定量测量方法,精度高。

它的基本原理是在十字偏振法的基础上,在样品和检偏器之间加入一个可精确测量的补偿器(如石英楔子、Babinet补偿器)。

通过旋转检偏器或移动补偿器,人为引入一个相反的双折射,来“抵消”样品产生的双折射,使测量点恢复暗场。

然后就是操作与计算,具体方法是这样的:

在偏光仪中找到待测点,这个点通常是条纹最密集或最关心的区域。通过补偿器上的刻度读取消光时所需的补偿量。然后根据公式 Δδ = R × λ / d 计算光程差。

这几个符合的代表的意义分别是:

Δδ:单位长度的光程差(nm/cm)。

R:补偿器读数(通常与旋转角度或位移相关)。

λ:光源波长(nm)。

d:样品厚度(cm)。

这种测试方法的优点是测量精度高,是传统计量中的标准方法。

缺点是一次只能测量一个点,全场测量耗时;对操作人员技能要求高。

光学元件应力双折射检验——补偿器法(3/4)


标签:光学 元件 折射 检验 补偿 

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