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光学测量

光学元件应力双折射检验——相位偏光法(2/4)

时间:2025-10-18 09:47:16   作者:Leslie   来源:正势利   阅读:56   评论:0
内容摘要:这种方法的原理是在十字偏振法的基础上,在光路中插入一个全波片(λ片或530nm敏感色片。它的观测与判断方法是,背景变为明亮的紫红色,压缩应力区域显示为蓝色,拉伸应力区域显示为橙黄色。

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光学元件应力双折射检验——相位偏光法(2/4)


这种方法的原理是在十字偏振法的基础上,在光路中插入一个全波片(λ片或530nm敏感色片。

它的观测与判断方法是,背景变为明亮的紫红色,压缩应力区域显示为蓝色,拉伸应力区域显示为橙黄色。

这种方法的优点是能直接区分应力的类型(拉/压),比普通十字偏振法更直观。

它的缺点同样是定性或半定量。

光学元件应力双折射检验——相位偏光法(2/4)


标签:光学 元件 折射 检验 相位 

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