光学元件应力双折射检验——相位偏光法(2/4)

《检测光学元件应力的方法与细节操作(锥光)》

《一种检测光学元件、部件、镜头应力的简易装置(锥光)》

《可调式实时应力仪(德国ilis)》

《应力干涉图》

这种方法的原理是在十字偏振法的基础上，在光路中插入一个全波片（λ片或530nm敏感色片。

它的观测与判断方法是，背景变为明亮的紫红色，压缩应力区域显示为蓝色，拉伸应力区域显示为橙黄色。

这种方法的优点是能直接区分应力的类型（拉/压）n比普通十字偏振法更直观。

它的缺点同样是定性或半定量。

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