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微分干涉(DIC)
一种用于检测正置/倒置+同轴透射及落射DIC棱镜的工装显微镜构思布局
时间：2026-05-02 14:18:43 作者：Leslie 来源：正势利 阅读：
24
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内容摘要：
一种用于检测正置/倒置+同轴透射及落射DIC棱镜的工装显微镜构思布局目的是用一款显微镜，可同时检测所有类型的微分干涉显微镜的棱镜成像，包括了正置DIC显微镜、倒置DIC显微镜、同轴透射照明DIC显微镜、同轴落射照明DIC显微镜。
作者QQ及微信
：49922779
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一种
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