特開2008-170969——405nm至656nm像差校正物镜_发明专利

发明专利: 特開2008-170969——405nm至656nm像差校正物镜

时间：2025-09-11 15:40:17 作者：Leslie 来源：正势利阅读：99 评论：0

内容摘要：特開2008-170969挑战：提供波长范围为405nm至656nm的像差校正显微镜物镜。解决方法：从物侧依次，由面向物侧平面的平凸透镜和物侧朝凹面的弯月面透镜连接的正透镜组Ga，由结透镜组成的正透镜组Gb、包含至少一个或多个结透镜的透镜组Gc，以及面向像侧具有强凹面的弯月面透镜组Gd，它由一个透镜组Ge组成，该透镜具...

特開2008-170969

挑战：提供波长范围为 405nm 至 656nm 的像差校正显微镜物镜。

解决方法：从物侧依次，由面向物侧平面的平凸透镜和物侧朝凹面的弯月面透镜连接的正透镜组Ga，由结透镜组成的正透镜组Gb、包含至少一个或多个结透镜的透镜组Gc，以及面向像侧具有强凹面的弯月面透镜组Gd，它由一个透镜组Ge组成，该透镜具有指向物侧的强烈凹面的负透镜，并满足以下条件公式。

作者QQ及微信：49922779

标签：校正

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